颗粒粒径分析仪是一种用于测量和分析颗粒物体的粒径(尺寸)分布的仪器。它可以应用于不同领域,如材料科学、环境监测、食品工业、制药等。
颗粒粒径分析仪可以使用多种测量原理进行粒径分析,其中常见的包括:
1、激光散射原理:通过激光束照射到样品上,测量散射光的角度和强度变化,从而计算出颗粒的粒径分布。
2、动态光散射原理:利用颗粒在液体或气体中的扩散运动,通过测量光散射的强度和时间变化,计算出粒径分布。
3、图像分析原理:基于图像处理技术,通过拍摄颗粒的图像并分析其形状和大小,得出粒径分布。
测量范围:
测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品,颗粒跟Z技术的检测下限为10nm;相应的,如果样品的散射能力较弱,则检测下限会变得更大。假如样品稳定,不会沉淀或漂浮,zeta电位测量的粒径上限为50微米,对于粒径测量为3微米。
颗粒粒径分析仪通常具有以下特点:
1、快速高效:能够快速地测量大量颗粒,并生成粒径分布曲线或报告。
2、宽尺寸范围:能够测量不同粒径范围的颗粒,从纳米级到几毫米甚至更大。
3、自动化功能:一些颗粒粒径分析仪配备自动进样和数据处理功能,提高操作效率和减少人为误差。
4、多种参数测量:除了粒径,还可以测量颗粒的形状、浓度、表面电荷等参数。
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